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恒溫恒濕測(cè)試儀能滿足那些標(biāo)準(zhǔn) |
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| 時(shí)間：2014-2-24 9:21:11 |
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恒溫恒濕測(cè)試儀是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域必備的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。接下來(lái)我公司便講解恒溫恒濕測(cè)試儀能滿足哪些標(biāo)準(zhǔn)，希望對(duì)廣大客戶有所幫助。
恒溫恒濕測(cè)試儀所能滿足的標(biāo)準(zhǔn)如下：
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法 GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411 濕熱試驗(yàn) GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn) GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》 GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》 GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》 GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》 GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》 |
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